更高的速度與靈敏度，更好的成像和分析
1.蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡場發射掃描電子顯微鏡更快的響應和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析，簡便、
2.快速地進行EDS能譜和EBSD等分析，同時保持出色的空間分辨率，充當您的得力助手。
3.在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像，在低電壓條件下工作時更為優異；
4.可快速地對樣品進行大范圍及高質量成像；
5.經優化的電子光學鏡筒，減少了工作過程中進行重新校準的復雜流程，節省成像時間，提高工作效率；
6.無論是不導電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品，無論是高真空或是可變壓力模式，均可實現快速和高質量的成像和分析；